Transmissionselektronenmikroskopie

Ein besseres Verständnis der Materialeigenschaften erfordert die genaue Untersuchung von Mikrostrukturen sowie der Gitterdefekte und Defektstrukturen. Die Charakterisierung dieser Gitterdefekte sowie auch sehr kleiner Mikrostrukturdetails ist mittels Transmissionselektronenmikroskopie möglich. Gemeinsam mit dem Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie (GFE), dem Lehrstuhl für Korrosion und Korrosionsschutz (KKS) und dem I. Physikalisches Institut (IA) verfügt das IMM über ein brandneues modernes Transmissionselektronenmikroskop (TEM). Bei dem Mikroskop handelt es sich um das Model JEM-F200 der Firma JEOL und verfügt über eine große Anzahl an Analyse- und Untersuchungsmethoden. Neben klassischen TEM-Untersuchungen, ist eine zusätzliche STEM-Einheit mit einem STEM-Detektor und einem BSE-Detektor vorhanden. Auch die Messung der lokalen Zusammensetzung ist mit einem EDX-Detektor möglich. Ebenfalls ist ein ASTAR System, welches das Mapping der lokalen Kristallstrukturen und -orientierungen ermöglicht. Ein Tomographiesystem wird in naher Zukunft ebenfalls vorhanden sein.

Anwendungsmöglichkeiten:
  • Charakterisierung lokaler Mikrostrukturbestandteile bis zur atomaren Ebene
  • Charakterisierung von Gitterdefekten
  • Messung der lokalen chemischen Zusammensetzung
Technische Daten:
  • JEM-F200 der Firma JEOL
  • Operation bei 80 kV und 200 kV Beschleunigungsspannung
  • Gatan OneView Kamera
  • STEM Einheit
  • SE-/BSE Detektor
  • Fensterloser EDX Detektor (Oxford)
  • ASTAR