Dual-Beam-FIB FEI Helios Nanolab 600i

Das neueste Großgerät am IMM ist seit Sommer 2014 ein Dual-Beam-FIB Helios Nanolab 600i der Firma FEI. Das Rasterelektronenmikroskop verfügt neben seiner hochauflösenden Elektronensäule zusätzlich über einen fokussierten Gallium-Ionenstrahl (Focused Ion Beam). Mit diesem ist es möglich, gezielt Micropillars für Mikrokompressionsversuche oder Lamellen für TEM-Untersuchungen aus dem Probenmaterial herauszuschneiden. Zuvor können die Proben mit Hilfe der angeschlossenen EBSD- und EDS-Systeme von EDAX/ Ametek und den verschiedenen eingebauten Detektoren (SE und QBSD) umfassend analysiert werden. Durch die abwechselnde Verwendung von Elektronen- und Ionenstrahl lassen sich geeignete Proben dabei in 3D mit EDS und EBSD, auch kombiniert, vermessen. Herauspräparierte TEM-Proben lassen sich zusätzlich direkt im Gerät mittels des STEM-Detektors untersuchen.

Anwendungsmöglichkeiten:
  • Hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie mit Phasenkontrast (QBSD)
  • Schnelle EBSD-Analysen
  • Untersuchung der lokalen chemischen Zusammensetzung mit EDS
  • 3D-EBSD und 3D-EDS, auch in Kombination
  • Präparation von TEM-Lamellen, Micropillar und Atomprobe-Spitzen
  • STEM-Aufnahmen (scanning transmission electron microscopy)
Technische Daten:
  • Auflösung 0,9nm bei 15kV, bis 30kV und 22nA Probenstrom möglich
  • 2 SE-Detektoren, Everhart-Thornley und InLens
  • 1 QBSD-Detektor
  • STEM Auflösung 0,8nm bei 30kV
  • Ionenstrahl bis zu 30kV und 65nA
  • Platin-Gasabscheidesystem
  • EBSD-Kamera mit bis zu 1000 frames/s
  • SDD EDS-Detektor